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首页 > 标签：闩锁效应原理及避免的方法

  • 闩锁效应原理及避免的方法

    在现代电子器件中，尤其是CMOS集成电路中，闩锁效应（Latch-up）是一个常见但极具破坏性的现象。它可能导致电路功能异常甚至永久性损坏，因

    2025年06月27日 16:11:13

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